荧光寿命测量:频域法与时域法
2024-09-29
荧光寿命测量是一种非常重要的荧光分析技术,它可以用来研究分子的动力学过程、物质的结构和功能等。频域法和时域法是常用的两种荧光寿命测量方法。本文将介绍这两种方法的原理、优缺点以及应用领域。 频域法是一种基于荧光强度的测量方法,它利用了荧光分子在外界激发下发射的光谱信息。在荧光光谱中,荧光强度与激发光强度之间存在一定的关系,这种关系可以用荧光寿命来描述。频域法通过对荧光强度与激发光强度之间的相位差进行测量来获得荧光寿命。频域法具有测量精度高、测量速度快等优点,但是对于荧光寿命较短的样品,测量精度会